ČSN EN ISO 19749   (012008) Nanotechnologie - Měření velikosti a distribuce tvaru částic pomocí rastrovací elektronové mikroskopie

  • Norma: ČSN EN ISO 19749   (012008)
  • Název: Nanotechnologie - Měření velikosti a distribuce tvaru částic pomocí rastrovací elektronové mikroskopie
  • Kategorie: 0120 - Nanotechnologie
  • Katalogový kód:517377
  • Dostupnost:Tisk
  • Třídící znak:012008
  • Platnost:Norma je platná
  • Vydání:09/2023
  • Účinnost:10/2023 - doposud
  • Jazyk:Část nebo celá norma je v angličtině.

ČSN EN ISO 19749   (012008) Nanotechnologie - Měření velikosti a distribuce tvaru částic pomocí rastrovací elektronové mikroskopie Norma Kat. číslo: 517377

 Nanotechnologie - Měření velikosti a distribuce tvaru částic pomocí rastrovací elektronové mikroskopie
Dlouhý název: Nanotechnologie - Měření velikosti a distribuce tvaru částic pomocí rastrovací elektronové mikroskopie
Krátký název: Norma
Třídící znak: 012008
Platnost: Norma je platná
Vydání: 09/2023
Účinnost: 10/2023 - doposud
Jazyk: Část nebo celá norma je v angličtině.
687,00 
687,00  s DPH

Anotace textu normy ČSN EN ISO 19749   (012008)

This document specifies methods of determining nanoparticle size and shape distributions by acquiring and evaluating scanning electron microscope images and by obtaining and reporting accurate results.

NOTE 1 - This document applies to particles with a lower size limit that depends on the required uncertainty and on the suitable performance of the SEM, which is to be proven first -according to the requirements described in this document.

NOTE 2 - This document applies also to SEM-based size and shape measurements of larger than nanoscale particles.

 

Zdroj: Česká Agentura pro Standardizaci (www.agentura-cas.cz) - smluvní partner

Náhled obsahu normy dočadně není k dispozici.