ČSN EN 60747-5-3   (358797) Diskrétní polovodičové součástky a integrované obvody - Část 5-3: Optoelektronické součástky - Metody měření

Anotace textu normy ČSN EN 60747-5-3   (358797)

Norma ČSN IEC 60747 Diskrétní polovodičové součástky a integrované obvody má řadu částí. Část 5-3 se zabývá metodami měření polovodičových optoelektronických součástkek.

Část 5-3 popisuje metody měření použitelné pro optoelektronické součástky, které nejsou určeny pro systémy nebo podsystémy s optickými vlákny. Metody se vztahují na následující součástky:

- polovodičové fotoemitory (diod světlo emitujících, infračerveně emitujících a laserových)

- polovodičové fotoelektrické detektory (fotodiody a fototranzistory).

- polovodičové fotocitlivé součástky.

- polovodičové součástky, které využívají pro vnitřní činnost optické záření (spojovací fotočleny a optočleny)

Problematika optoelektronických součástek pro systémy s optickými vlákny je dále diskutována v řadě ČSN EN 62007. Problematika zobrazovacích součástek polovodičových i součástek s kapalnými krystaly je dále diskutována v řadě ČSN EN 61747.

Přejímaná norma představuje celkem 3 strany evropské normy a 61 stran dvojjazyčného francouzsko-anglického textu.